在檢查硅片或微電子系統(tǒng)時,你需要看更多嗎?你想得到與電子顯微鏡相似的清晰詳細的樣本圖像嗎?
觀看這個免費的網(wǎng)絡研討會,了解更多關于強大的成像和對比技術,可以提高您的檢查性能。您將了解如何克服分辨率標準,而不需要浸油或轉移到SEM,以實現(xiàn)您想要的檢測結果。
網(wǎng)絡研討會錄音有英文和德文兩種版本。
強大的成像和對比技術背后的基礎原理,將為您提供高分辨率和對比度。
如何成功地將這些技術應用于日常檢查工作,而無需浸油或轉移到SEM。
了解這些方法的組合如何幫助您提高檢查性能。
掃碼觀看點播
電話
微信掃一掃